DIGITAL SYSTEM DESIGN

DIGITAL SYSTEM DESIGN

UNIT I

DESIGN  OF  DIGITAL  SYSTEMS:  ASM  charts,  Hardware  description  language  and control  sequence  method, Reduction of state tables, state assignments.

UNIT II

SEQUENTIAL CIRCUIT DESIGN: design of Iterative circuits, design of sequentialcircuits using ROMs and PLAs, sequential circuit design using CPLD, FPGAs.

UNIT III

FAULT MODELING: Fault classes and models, Stuck at faults, bridging faults, transitionand intermittent faults.

TEST  GENERATION:  Fault  diagnosis  of  Combinational  circuits  by  conventional methods  –  Path  Sensitization technique, Boolean difference method, Kohavi algorithm.

UNIT IV

TEST PATTERN GENERATION: D–algorithm, PODEM, Random testing, transition counttesting, Signature analysis and testing for bridging faults.

UNIT V

FAULT DIAGNOSIS IN SEQUENTIAL CIRCUITS: State identification and faultdetection experiment. Machine identification, Design of fault detection experiment.

UNIT VI

PROGRAMMING LOGIC ARRAYS: Design using PLA’s, PLA minimization and PLAfolding.

UNIT VII

PLA TESTING: Fault models, Test generation and Testable PLA design.

UNIT VIII

ASYNCHRONOUS SEQUENTIAL MACHINE: Fundamental mode model, flow table,state reduction, minimal closed covers, races, cycles and hazards.

TEXTBOOKS:

1.  Z. Kohavi – “Switching & finite Automata Theory” (TMH)

2. N. N. Biswas – “Logic Design Theory” (PHI)

3.  Nolman Balabanian, Bradley Calson – “Digital Logic Design Principles” – Wily StudentEdition 2004.

REFRENCES:

1.  M.  Abramovici,  M.  A.  Breues, A.  D.  Friedman – “Digital System Testing andTestable Design”,   Jaico Publications

2.  Charles H. Roth Jr. – “Fundamentals of Logic Design”.

3.  Frederick. J. Hill & Peterson – “Computer Aided Logic Design” – Wiley 4th Edition